Kett LE-373膜厚計

測量方式

電磁誘導式

測量對象

磁性金屬上非磁性被膜 及
非磁性金屬上的絕緣被膜

測量范圍

0～2,500μm或0～99.0mils　或
0～1,200μm或0～47.0mils

測頭型式

單點接觸定壓式（LEP-J & LHP-J）

最小測量
面積

5x5mm

測量精度

50μm以下：±1μm
50μm～1,000μm：±2%
1,000μm以上:±3%

解析度

100μm以下：0.1μm
100μm以上：1.0μm

檢量曲線

電磁式50組、渦電流式50，共100組檢量曲線記憶

資料記憶數

約39000筆，資料具查閱功能

測量功能

具單點測試、連續掃瞄測試，可測試膜厚分布變化

顯示方式

背光式LCD(180x64dots)數位顯示
最小解析0.1μm

外部輸出

可將資料輸出至個人電腦或專用印表機（RS-232C)

電　源

單3鹼性電池x4顆

電力消耗

80mW(當背光關閉時)

電池壽命

約100小時(連續使用，背光關閉時)

操作環境

0～40℃

應用功能

檢量線選擇、素材補正、資料刪除、資料記憶、上下限設定、統計計算(測量次數、平均值、標準偏差、最大值、最小值)、顯示選擇、日期時間、自動關機時間、背光亮度、背光時間、單位切換、資料輸出、自動批號區分、測量方式、維修模式等功能

尺 　寸

W75xD140xH31(mm)

重　量

約340g

標準配件

標準片盒子、單3號鹼性電池1.5Vx4顆、曲面固定器、攜帶皮套

專屬配件

鐵素材(FE373)、鋁素材(NFE-373)、標準片6片組(10μm、50μm、100μm、500μm、1,000μm、1,500μm)

選購配備

標準片(配件以外的厚度)、膜厚計測臺LW-990、USB電腦傳輸線、專用印表機VZ-330、印表機專用傳輸線、RS-232C&USB轉換線、資料管理軟體LDL-02、資料管理軟體McWAVE系列